第９９回ＪＯＥＭ案内
走査型プローブ顕微鏡
有機エレ材研(ＪＯＥＭ)
《電子情報通信学会 有機エレクトロニクス研究専門委員会との共催》
《日 時》 1998年１０月２３日（金）１時 〜 ５時
《会 場》 機械振興会館 ６階研修６５号室
《プログラム》
(1) 自己組織化単分子膜とＳＰＭの新しい可能性
○原 正彦・Wolfgang Knoll（理研国際フロンティア）
(2) 有機／金属、有機／有機界面における光電流増倍現象と界面極微細構造
平本昌宏（阪大）
(3) ＡＦＭフォースマッピング技術による有機薄膜の官能基識別
○石野 隆、稗田 泰之、田中 国義、源間 信弘、内藤勝之（東芝）
(4) UHV-AFMによる有機分子の高分解能観察
○小林 圭、山田 啓文、堀内 俊寿、松重 和美（京大）
(5) ピエゾ抵抗カンチレバーアレイを用いたＡＦＭ像観察
○島田康弘、八木隆行、山崎剛生、紫藤俊一、松田宏、瀧本清（キヤノン）
(6) マックスウェル応力顕微鏡による有機薄膜における電気像のナノメーター
スケールイメージング ○辛 熏 珪、 横山 浩（電総研）
(7) 走査型プローブを用いたSiの表面電位とSTSの同時測定
○小山裕、真島豊、佐々木一郎、岩本光正（東工大）
参 加 費：参加費、講演要旨集代も含めて無料です．
会員以外は参加費として 5,000円を当日受付にて申し受けます．
参加登録：参加登録，登録の変更は，10月15日までに，当研究会専用葉書，又はFAXによりお願い致します．参加証は発行しません．